| ： | SN74LVTH18504APM |
|---|---|
| ： | 专业逻辑 |
| ： | Texas Instruments |
| ： | IC SCAN-TEST-DE |
| ： | - |
| ： | 托盘 |
| ： | 1 |
160
$8.1500
$1,304.0000
| 类型 | 描述 |
| 制造商 | Texas Instruments |
| 系列 | 74LVTH |
| 包裹 | 托盘 |
| 产品状态 | ACTIVE |
| 包装/箱 | 64-LQFP |
| 安装类型 | Surface Mount |
| 位数 | 20 |
| 逻辑类型 | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| 工作温度 | -40°C ~ 85°C |
| 电源电压 | 2.7V ~ 3.6V |
| 供应商设备包 | 64-LQFP (10x10) |
